【2月3日 AFP】脳スキャンによって短期記憶能力を測定することで、学習障害（LD）のある子どもの早期特定に役立つ可能性があるとの研究論文が先月29日、米専門誌「神経科学ジャーナル（Journal of Neuroscience）」で発表された。

 スウェーデン・カロリンスカ研究所（Karolinska Institute）の研究チームは今回、磁気共鳴画像装置（MRI）を用いた脳スキャンによって、短期記憶能力の発達状態のマッピングが可能であることを明らかにした。

 トーケル・クリングベリ（Torkel Klingberg）教授（神経科学）は、AFPの取材に「心理検査だけでは予測不可能な将来の発達を予測するためにMRIを用いるのは、原理上可能だろう」と語る。「適切な介入支援の時機を逃さないために、発育障害のリスクを抱える子どもを早期に特定できることが、この手法の利点と考えられる」

 子ども全体の約10～15％に学習力や集中力に関する障害の傾向があり、これは問題を解くための情報を保持する能力である短期記憶能力の欠如に関連している可能性がある。

 脳スキャンだけでは将来の学習困難の予測は期待できず、他の心理検査と組み合わせて用いることになるだろうと、クリングベリ教授は述べている。

 今回の研究では、無作為に選んだ6～20歳までの健康な子どもと若者計62人を対象に、脳スキャンと同時に認識力検査を実施し、結果を比較した。同じ対象者を2年後に再び検査した結果、前回の検査時に行ったスキャンに、学習能力の発達に関する予測に役立つ可能性があることが判明したという。(c)AFP